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天美达伏格列波糖分析柱后衍生系统
):280X330X280(L*W*H)11、功率:300W12、电源:220V 50Hz13、重量:5.5Kg PCX-F装置专门为伏格列波糖分析设计的,一般的柱后衍生装置不具备伏格列波糖衍生
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圆度仪R47B
型号RONDCOM 47B 测量范围 zei大测量直径350mm 左右进给范围(R轴)191mm 上下进给范围(Z轴)350mm zei大装载
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天净仪器TJ-6纳米分散研磨仪
主要技术参数如下: 工作电压: 单相220V/50HZ 研磨罐容量: 50—6000ml 定时器: 0—99小时 变频器
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格瑞德曼JC6颚式破碎机
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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格瑞德曼 行星式球磨仪BM6Pro
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11N,12N\13N高纯锗晶体
、纯度:残留载荷 最大允许净载流子杂质浓度与探头二极管的几个构造有关,请参照如列公式。其纯度依据据霍尔效应测量和计算。 同轴探测器:同轴探测器适用于下列公式
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